GBT 2423.17-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ka：鹽霧.pdf
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《GB/T 2423.17—2008》是中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)發(fā)布的電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)之一，等同于國(guó)際標(biāo)準(zhǔn) IEC 60068-2-11:1981。該標(biāo)準(zhǔn)主要用于模擬鹽霧環(huán)境對(duì)產(chǎn)品造成的腐蝕影響，替代了1993年版，并在鹽溶液濃度、pH值測(cè)量、試驗(yàn)報(bào)告等方面做了更新。
本試驗(yàn)適用于：
比較結(jié)構(gòu)相似試樣的抗鹽霧腐蝕能力；
評(píng)定保護(hù)性涂層的質(zhì)量與均勻性。
但不適用于：
通用鹽霧腐蝕試驗(yàn)；
單個(gè)試樣在含鹽大氣中的性能評(píng)定。
注：若需測(cè)試單個(gè)零部件，建議參考 試驗(yàn)Kb 方法。
使用高純度氯化鈉，雜質(zhì)含量 ≤ 0.3%；
鹽溶液濃度為 (5±1)%（質(zhì)量比）；
pH值在 6.5～7.2 之間（溫度35±2℃）；
禁止重復(fù)使用已噴霧的溶液。
材料不得影響腐蝕效果；
箱內(nèi)條件均勻穩(wěn)定，鹽霧不直噴試樣；
防止冷凝液滴落；
具備排氣裝置，避免強(qiáng)氣流。
能產(chǎn)生細(xì)小、濕潤(rùn)、密集的霧；
材料不與鹽溶液反應(yīng)；
壓縮空氣需凈化，無(wú)油無(wú)塵。
對(duì)試樣進(jìn)行目視檢查，必要時(shí)進(jìn)行電氣與機(jī)械性能檢測(cè)。
按規(guī)范清潔試樣，避免手直接接觸表面。
試樣按使用狀態(tài)放置，避免相互接觸；
試驗(yàn)箱溫度維持 （35±2）℃；
鹽霧沉降量：每小時(shí) 1.0 mL～2.0 mL（使用80 cm2收集器）；
試驗(yàn)周期可選：16h、24h、48h、96h、168h、336h、672h。
連續(xù)試驗(yàn)箱：每次試驗(yàn)后測(cè)量；
不連續(xù)試驗(yàn)箱：試驗(yàn)前試運(yùn)行16h~24h后測(cè)量。
試驗(yàn)結(jié)束后：
小試樣用自來(lái)水沖洗5分鐘，再用蒸餾水或去離子水沖洗；
用氣流或晃動(dòng)干燥；
水溫不超過(guò)35℃；
在標(biāo)準(zhǔn)恢復(fù)條件下放置 1h～2h。
試驗(yàn)箱應(yīng)耐腐蝕、密封良好；
噴霧系統(tǒng)應(yīng)穩(wěn)定、均勻；
收集裝置應(yīng)能準(zhǔn)確測(cè)量沉降量與pH值；
排氣口需防風(fēng)，避免干擾箱內(nèi)氣流。
試樣擺放角度會(huì)影響試驗(yàn)結(jié)果，應(yīng)嚴(yán)格按照使用狀態(tài)放置；
清潔方法不得引入二次腐蝕；
試驗(yàn)報(bào)告中需記錄暴露周期、試樣位置、濃度與pH值；
最終檢測(cè)時(shí)需注意殘留鹽分對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響。
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